PET系统中Lu-176本底辐射的影响

• 作者: 戴甜甜 魏清阳
• 来源期刊: 同位素
• 学科: 医学
• 关键词: 正电子发射断层成像仪 闪烁晶体 镥-176 本底辐射
• 年，卷（期）: 2018,（1）
• 所属期刊栏目: 放射性同位素应用技术
• 页码范围: 26-32
• 页数: 7页
• 分类号: R445.6|TL99
• 字数: 4380字
• 语种: 中文
• DOI: 10.7538/tws.2017.youxian.031

摘要

正电子发射断层(positron emission tomography,PET)成像系统的探测器广泛采用具有高阻止本领、高光输出和较短发光衰减时间特性的含镥闪烁晶体.天然镥(L u)元素中含有丰度2.6％ 的L u-176长半衰期放射性同位素,包括一个β衰变和三个级联的γ衰变.Lu-176本底辐射对PET探测器引入随机事件,影响系统成像性能,但该特性又可以被合理的开发应用.本文主要介绍L u-176本底辐射在PET系统中的特性,由此带来的不利影响,以及其有利的应用开发.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	戴甜甜	中日友好医院放射肿瘤科	9	29	3.0	5.0
2	魏清阳	北京科技大学自动化学院北京市工业波谱成像工程技术研究中心	4	5	1.0	2.0