面向ARINC429总线的抗辐照翻转故障测试系统

• 作者: 张道阳 李颖 王鹏 白杰 芦浩 薛茜男
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 航空电子 单粒子翻转 SRAM 辐照效应 FPGA
• 年，卷（期）: 2018,（1）
• 所属期刊栏目: 电子电路设计分析及应用
• 页码范围: 230-234
• 页数: 5页
• 分类号: TN702
• 字数: 2188字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2018.01.042

摘要

大气中的辐射效应是伴随着微电子技术进步而衍生出的新危害,是航空工业部门之前从未遇见的新的技术难题.以SRAM型FPGA所构成的ARINC429航空数据总线作为研究对象,研究其抗翻转故障效果.基于SRAM型器件搭建航空数据总线抗辐照翻转故障测试系统,评价航空器件对辐照效应防护能力.测试实验结果表明,系统能够正确响应不同类型的故障注入并经过表决器输出计算结果,实现对翻转故障加固的有效性的直观评测.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王鹏	中国民航大学天津市民用航空器适航与维修重点实验室	76	158	6.0	8.0
2	白杰	中国民航大学天津市民用航空器适航与维修重点实验室	64	128	6.0	7.0
3	薛茜男	中国民航大学天津市民用航空器适航与维修重点实验室	13	34	4.0	4.0
4	芦浩	中国民航大学天津市民用航空器适航与维修重点实验室	7	13	3.0	3.0
5	张道阳	中国民航大学天津市民用航空器适航与维修重点实验室	4	11	2.0	3.0
6	李颖	中国民航大学天津市民用航空器适航与维修重点实验室	4	6	1.0	2.0