X射线荧光光谱分析技术在大理岩鉴定与分类中的应用

• 作者: 伍月 王大千 王海娇 迟广成 陈英丽
• 来源期刊: 岩矿测试
• 学科: 化学
• 关键词: 大理岩 X射线荧光光谱法 矿物鉴定 杂质系数 镁质系数 钙质系数
• 年，卷（期）: 2018,（1）
• 所属期刊栏目: 岩石矿物分析
• 页码范围: 43-49
• 页数: 7页
• 分类号: O657.31|P588.313
• 字数: 5175字
• 语种: 中文
• DOI: 10.15898/j.cnki.11-2131/td.201611300176

摘要

大理岩的鉴定与分类主要依靠岩石薄片鉴定及X射线衍射(XRD)矿物半定量检测技术.工作中发现,岩石薄片鉴定技术及XRD矿物半定量检测技术所测得矿物组分含量很少一致,这就需要引入其他技术对岩石薄片鉴定及XRD矿物半定量检测结果加以验证.本文利用X射线荧光光谱仪(XRF)对野外采集的32件大理岩样品进行全岩化学成分分析,以岩石化学成分为基础,分析岩石杂质系数、镁质系数和钙质系数特征,对大理岩进行分类.结果表明:方解石大理岩、白云石大理岩、菱镁矿大理岩的镁质系数值分别为0.01~0.13、0.40~0.46、0.97~0.98,钙质系数值分别为0.78~0.84、0.30~0.49和0.01 ~0.02,不同类型大理岩的钙质系数和镁质系数明显不同,可以作为划分大理岩类型的主要依据.当岩石中SiO2+Al2O3含量大于35%(杂质系数大于为1.20),不能定为大理岩,只有岩石中 SiO2+Al2O3含量小于30%(杂质系数小于1.00)时,可定为大理岩.杂质系数、镁质系数和钙质系数的应用,能够校正岩石薄片鉴定法及XRD矿物半定量法矿物含量检测不一致的问题,使大理岩分类定名更加准确.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	迟广成		5	6	2.0	2.0
2	伍月		8	2	1.0	1.0
3	王海娇		14	10	2.0	2.0
4	陈英丽		1	2	1.0	1.0
5	王大千		1	2	1.0	1.0