基于STM32单片机的高精度微弱电容检测研究

• 作者: 林倩 王海霞
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: STM32 Pcap01 微弱电容检测
• 年，卷（期）: 2018,（9）
• 所属期刊栏目: 测试与故障诊断
• 页码范围: 17-22
• 页数: 6页
• 分类号: TP273
• 语种: 中文
• DOI: 10.16526/j.cnki.11-4762/tp.2018.09.005

摘要

针对以Pcap01为芯片的微电容测量系统高精度性问题,提出一种基于STM32f103单片机为控制器的微电容测量电路硬件设计,并可对0～3.5 nF之间的微小电容进行高精度测量;该设计基于TDC(时间数字转换原理),系统硬件主要由STM32f103单片机、Pcap01微电容测量芯片、显示模块和电源管理模块组成;整个仪器的硬件电路设计在同一块PCB电路板上,可增加集成度、减少仪器电路体积、增加空间利用率、提高硬件电路的电磁兼容性、方便各个模块之间的通讯;同时,编程了Pcap01初始化与单片机软件设计,在硬件电路的基础上实现了SPI通讯、显示屏控制,最终实现了便携式的电容测量;结果表明,该系统测量精度高,实时性好,可有效测量微小电容值,在以56 pF为参考电容时,测量精度可达13.5 fF.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王海霞		9	7	2.0	2.0
2	林倩		28	18	2.0	3.0