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摘要:
基体温度是影响金刚石薄膜生长质量的重要因素之一.基于有限元分析法,通过AN-SYS CFX软件对基体温度场进行模拟仿真,得到基体表面温度场的分布,并分别讨论了热丝-基体距离、热丝间距、水冷系数等参数对系统温度场均匀性和一致性的影响.经仿真优化后得到的参数值分别为热丝-基体距离10 mm、热丝间距15 mm、水冷系数1 000 W/(m2·K).在此优化工艺的基础上进行热丝化学气相沉积(HFCVD)金刚石薄膜的实验,并采用扫描电子显微镜(SEM)和X射线衍射仪(XRD)对金刚石薄膜表面特征进行检测.结果表明:利用仿真优化后的薄膜生长参数,可以在金刚石薄膜生长区域得到比较均匀的多晶金刚石薄膜.
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 HFCVD金刚石薄膜的热场模拟及实验
来源期刊 半导体技术 学科 工学
关键词 热丝化学气相沉积(HFCVD) 金刚石薄膜 温度场 有限元分析 均匀性
年,卷(期) 2018,(1) 所属期刊栏目 半导体制造技术
研究方向 页码范围 53-58
页数 6页 分类号 TN304.055|TN304.18
字数 语种 中文
DOI 10.13290/j.cnki.bdtjs.2018.01.008
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 檀柏梅 河北工业大学电子信息工程学院 85 534 13.0 18.0
3 高宝红 河北工业大学电子信息工程学院 29 61 4.0 5.0
9 刘宜霖 河北工业大学电子信息工程学院 5 10 2.0 2.0
11 路一泽 河北工业大学电子信息工程学院 3 4 2.0 2.0
17 张礼 河北工业大学电子信息工程学院 1 0 0.0 0.0
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热丝化学气相沉积(HFCVD)
金刚石薄膜
温度场
有限元分析
均匀性
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半导体技术
月刊
1003-353X
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大16开
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18-65
1976
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