称重法测量强63Ni薄膜源活度的研究

• 作者: 夏玉倩 张利峰 张磊
• 来源期刊: 同位素
• 学科: 工学
• 关键词: 63Ni 活度 称重
• 年，卷（期）: 2018,（2）
• 所属期刊栏目: 放射性同位素及放性源
• 页码范围: 110-113
• 页数: 4页
• 分类号: TL929|TL84
• 字数: 2112字
• 语种: 中文
• DOI: 10.7538/tws.2017.youxian.044

摘要

为解决因63 Ni源的β射线能量低,使强63Ni源活度难以直接测量的问题,依据放射性物质活度和质量的关系,利用称重法对化学镀镍工艺制备的强63Ni源活度进行间接测量.结果显示,不同编号的63Ni镀层质量为0.92～2.16 mg,根据63 Ni比活度、镀层中Ni含量计算对应镀层活度为4.1×108～9.6×108 Bq.考虑天平、Ni含量分析的系统误差,该活度数据的可靠性较高.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张利峰		7	4	2.0	2.0
2	张磊		14	4	1.0	1.0
3	夏玉倩		1	0	0.0	0.0