磁共振成像谱仪B0信号的高精度发生与测试

• 作者: 崔妍 肖亮
• 来源期刊: 波谱学杂志
• 学科: 物理学
• 关键词: 磁共振成像(MRI) 谱仪 B0信号 现场可编程门阵列(FPGA) 数据采集卡
• 年，卷（期）: 2018,（2）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 170-177
• 页数: 8页
• 分类号: O482.53
• 字数: 2494字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11938/cjmr20172594

摘要

设计了一种基于现场可编程门阵列(FPGA)的磁共振成像(MRI)谱仪B0信号的高精度发生方法,并对产生的B0信号经高速采集卡采集之后进行测试和验证.FPGA从外部读取波形数据和参数,分别存储在双端口随机存取存储器(RAM)和参数寄存器中,根据预补偿算法实现B0信号的发生,并通过对时间参数和幅度参数的控制,产生不同的B0信号,时间分辨率为1 μs.对谱仪的B0输出进行采集,再进行最小二乘拟合,以验证B0信号发生的准确性.经实验证实,该设计可以产生正确、可控的高精度B0信号.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	肖亮	北京化工大学信息科学与技术学院	11	43	3.0	6.0
2	崔妍	北京化工大学信息科学与技术学院	2	7	2.0	2.0