透波结构的电厚度高分辨率测试技术

• 作者: 房新蕊 王克先
• 来源期刊: 现代雷达
• 学科: 航空航天
• 关键词: 透波结构 电厚度 透射法 点聚焦透镜 单点测试面积
• 年，卷（期）: 2018,（5）
• 所属期刊栏目: 天馈伺系统
• 页码范围: 54-57
• 页数: 4页
• 分类号: V13
• 字数: 2268字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16592/j.cnki.1004-7859.2018.05.012

摘要

点聚焦透镜天线能微观确定透波结构的电厚度偏离程度.利用点聚焦天线的波束汇聚能力,通过对透波结构电厚度超差区域的准确定位,实现电厚度的高分辨率测试.采用频率变换的原理组建透射法相位测试系统,用两路合成信号发生器产生测试所需的差频微波信号,直接实时比较校正支路和测试支路的相差,达到了电厚度高稳定性测试.以实际型号为例,采用HFSS软件对点聚焦透镜进行设计仿真,给出设计参数,加工符合设计要求的点聚焦透镜并将其应用在透射法测试系统中,提高了透波结构电厚度测量与校正的工作效率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王克先	中国航空工业集团公司济南材料结构研究所高性能电磁窗航空科技重点实验室	1	1	1.0	1.0
2	房新蕊	中国航空工业集团公司济南材料结构研究所高性能电磁窗航空科技重点实验室	3	1	1.0	1.0