二氧化锡电极的电阻率测试及电性能研究

• 作者: 唐景平 李进 胡丽丽 邹兆松 金春荣 钱敏
• 来源期刊: 玻璃与搪瓷
• 学科: 工学
• 关键词: 二氧化锡电极 电阻率 晶粒 晶界
• 年，卷（期）: 2018,（4）
• 所属期刊栏目: 研究与实验报告
• 页码范围: 1-4
• 页数: 4页
• 分类号: TQ171.6+23.2
• 字数: 1978字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13588/j.cnki.g.e.1000-2871.2018.04.001

摘要

介绍了二氧化锡电极的电阻率测试方法,实测了国产二氧化锡电极在使用前后电阻率的变化.发现使用后二氧化锡电极的电阻率会增大,XRD衍射以及电镜分析表明,使用后的电极其晶粒会随温度升高而增大,晶粒之间的晶界也变大,因而使电阻率增加.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡丽丽	中科院上海光学精密机械研究所	8	14	2.0	3.0
2	唐景平	中科院上海光学精密机械研究所	3	4	1.0	2.0
3	钱敏	中科院上海光学精密机械研究所	2	0	0.0	0.0
4	李进	中科院上海光学精密机械研究所	2	0	0.0	0.0
5	金春荣	中科院上海光学精密机械研究所	2	0	0.0	0.0
6	邹兆松	中科院上海光学精密机械研究所	2	0	0.0	0.0