一种高性能多重峰值检测VLSI结构

• 作者: 冯全源 向乾尹 孙华杰 邸志雄 郑宗良 陈迪贝
• 来源期刊: 微电子学
• 学科: 工学
• 关键词: 峰值检测 VLSI 排序
• 年，卷（期）: 2018,（1）
• 所属期刊栏目: 电路与系统设计
• 页码范围: 28-31,36
• 页数: 5页
• 分类号: TN432
• 语种: 中文
• DOI: 10.13911/j.cnki.1004-3365.170153

摘要

现有的大部分峰值检测VLSI都是基于基-2的树结构,性能较低,还会消耗大量的芯片资源.针对此不足,提出一种高性能多重峰值检测VLSI.该峰值检测VLSI可在大量数据中找到N个峰值,并输出峰值的坐标.采用了控制电路同构化和数据通道“Push-Pull”机制,达到简化控制电路、压缩数据通路逻辑延迟的目的.基于TSMC 90 nm CMOS工艺,对电路进行了性能评估.结果表明,在不同极值个数下,该VLSI最高频率可达1 GHz,最大面积仅为42 205 μm2.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	冯全源	西南交通大学信息科学与技术学院	261	1853	19.0	26.0
2	邸志雄	西南交通大学信息科学与技术学院	6	10	2.0	3.0
6	孙华杰	西南交通大学信息科学与技术学院	1	0	0.0	0.0
7	陈迪贝	西南交通大学信息科学与技术学院	1	0	0.0	0.0
8	向乾尹	西南交通大学信息科学与技术学院	6	6	1.0	1.0
12	郑宗良	西南交通大学信息科学与技术学院	1	0	0.0	0.0