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基于栅格样版正交方向扫描的精准测量
基于栅格样版正交方向扫描的精准测量
作者:
傅云霞
孟凡娇
赵军
邵力
雷李华
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
栅格标准样版
图像畸变
正交扫描方向角
误差修正方法
纳米测量系统
摘要:
作为横向标准样版,栅格标准样版被广泛应用于校准各类显微镜测头的放大倍率以及图像畸变,因此,对栅格样版的精准测量是保证测量仪器量值准确传递的基础.提出了一种基于双角度偏转原理的快速、精确定位一维栅格结构的正交扫描方向角的提取方法,并通过模型转换实现了二维栅格结构的“行方向”、“列方向”正交扫描方向角提取的拓展;分析了一维和二维光栅结构的误差修正方法,通过集成的原子力显微镜(AFM)测头和激光共聚焦测头(LFS)的计量型纳米测量系统对栅格标准样版进行了多次重复性测量.结果表明,正交扫描方向角的有效提取,能大大提高周期性栅格结构的评价精度和准确性.
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文献信息
篇名
基于栅格样版正交方向扫描的精准测量
来源期刊
微纳电子技术
学科
工学
关键词
栅格标准样版
图像畸变
正交扫描方向角
误差修正方法
纳米测量系统
年,卷(期)
2018,(11)
所属期刊栏目
加工、测量与设备
研究方向
页码范围
824-830
页数
7页
分类号
TN305.6
字数
语种
中文
DOI
10.13250/j.cnki.wndz.2018.11.008
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
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赵军
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邵力
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傅云霞
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二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
栅格标准样版
图像畸变
正交扫描方向角
误差修正方法
纳米测量系统
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
微纳电子技术
主办单位:
中国电子科技集团公司第十三研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1671-4776
CN:
13-1314/TN
开本:
大16开
出版地:
石家庄市179信箱46分箱
邮发代号:
18-60
创刊时间:
1964
语种:
chi
出版文献量(篇)
3266
总下载数(次)
22
总被引数(次)
16974
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