无氰镀银镀层的XRD研究

• 作者: 孙志 程娜 赵健伟
• 来源期刊: 电镀与精饰
• 学科: 化学
• 关键词: XRD 无氰镀银 衍射峰 结晶
• 年，卷（期）: 2018,（12）
• 所属期刊栏目: 环境保护
• 页码范围: 41-46
• 页数: 6页
• 分类号: O646
• 字数: 4450字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-3849.2018.12.010

摘要

针对清洁与安全生产的需求,近年来无氰镀银技术得到了深入研究.X射线衍射(XRD)技术广泛用于研究镀层的晶粒尺度和择优取向等信息,本文以ZHL-02新型碱性无氰镀银液为研究主体,利用XRD技术研究了温度、电流密度以及搅拌方式对银镀层结晶状态的影响.对衍射图样分析可知:在38.7 °、44.8 °、64.9 °和78.1 °附近出现衍射峰,分别对应银的(111)、(200)、(220)和(311)晶面.实验测得的衍射峰位均高于标准值,说明镀层致密.利用Scherrer公式拟合得到结晶颗粒在15～20 nm.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵健伟	嘉兴学院材料与纺织工程学院	14	15	2.0	2.0
2	程娜	嘉兴学院材料与纺织工程学院	9	10	2.0	2.0
3	孙志	嘉兴学院材料与纺织工程学院	6	6	1.0	2.0