元器件在冲击环境下的可靠性——试验、仿真与理论模型

• 作者: 周春燕 唐金慧 孟庆伟 李骥尧
• 来源期刊: 环境技术
• 学科: 工学
• 关键词: 元器件 冲击可靠性 试验 理论模型 数值仿真
• 年，卷（期）: 2018,（4）
• 所属期刊栏目: 环境适应性和可靠性
• 页码范围: 58-62
• 页数: 5页
• 分类号: TG174
• 字数: 2659字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-7204.2018.04.012

摘要

据统计,武器型号在研制生产过程由元器件失效引发的质量问题时有发生.而大量元器件的使用失效由冲击环境造成,冲击对元器件的危害往往是致命的,引脚断裂,焊点脱落,器件腔体出现形变等等.因此型号在设计阶段必须考虑产品的冲击可靠性,比如产品级的冲击防护,类似保护箱,阻尼装置,吸能装置等,但这些产品级的防护不能完全保护元器件的可靠性.而近年来,电子元器件也朝着大规模,高集成化,小型化发展,新工艺,新材料也在不断应用,因此元器件在冲击环境下的可靠性保障工作也变得越来越有挑战性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周春燕	北京理工大学宇航学院	9	33	4.0	5.0
2	李骥尧		1	2	1.0	1.0
3	孟庆伟		1	2	1.0	1.0
4	唐金慧		3	5	2.0	2.0