基于DMR-CED容错方法的多相结构数字下变频SEU防护设计

• 作者: 于勇 佟昕 张振华 赵宝珍
• 来源期刊: 遥测遥控
• 学科: 工学
• 关键词: 单粒子翻转 多相结构数字下变频 容错技术
• 年，卷（期）: 2018,（4）
• 所属期刊栏目: 论文与技术报告
• 页码范围: 54-59
• 页数: 6页
• 分类号: TN911.72
• 字数: 2335字
• 语种: 中文

摘要

商用SRAM型FPGA具有低功耗和可重配的特点,可以为空间应用提供更好的性能,但其在空间环境下容易受到单粒子翻转效应(SEU)的影响.三模冗余是一种传统的SEU防护方法,然而应用到多相结构的数字下变频上会占用太多资源.提出一种针对多相结构数字下变频的SEU防护方案,通过双备份冗余(DMR)与并发错误检测(CED)相结合的方法对多相结构的数字下变频进行防护.通过故障注入的方法进行防护性能评估,并对所提方案和三模冗余的结果进行对比,验证方案不仅有效且占用资源较少.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	于勇		27	165	4.0	12.0
2	张振华		25	33	3.0	3.0
3	佟昕		1	2	1.0	1.0
4	赵宝珍		1	2	1.0	1.0