样品晶粒尺寸及高度偏差对XRD的影响

• 作者: 王琼 肖康 苏凡 辛颢 马延文
• 来源期刊: 广州化学
• 学科: 化学
• 关键词: XRD 样品制备 晶粒尺寸 高度偏差 测试误差
• 年，卷（期）: 2018,（5）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 1-10
• 页数: 10页
• 分类号: G312|O632
• 字数: 3854字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16560/j.cnki.gzhx.20180505

摘要

样品晶粒尺寸及样品高度偏差对XRD测试结果存在极大影响.实验结果表明,晶粒尺寸过大会导致异于标准卡片的衍射峰出现,且衍射谱图不具有重现性;样品高度偏差则会导致衍射峰位移动,正高度偏差使衍射峰向高角度方向移动,负高度偏差使衍射峰向低角度方向移动,峰位移动量与高度偏差呈正比:Δ2θ=360cosθ/πRΔh.样品晶粒和高度偏差过大以致结果异常的情况应视为制样错误

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	肖康	南京邮电大学材料科学与工程学院	6	50	1.0	6.0
2	王琼	南京邮电大学材料科学与工程学院	6	50	1.0	6.0
3	苏凡	南京林业大学现代分析测试中心	6	3	1.0	1.0
4	马延文	南京邮电大学材料科学与工程学院	9	49	4.0	7.0
5	辛颢	南京邮电大学材料科学与工程学院	1	1	1.0	1.0