强辐射背景下光电成像探测性能计算方法

• 作者: 李翰山 苗旺
• 来源期刊: 电光与控制
• 学科: 工学
• 关键词: 光电探测 灵敏度 信噪比 探测性能 探测概率 串扰概率
• 年，卷（期）: 2018,（12）
• 所属期刊栏目: 学术研究
• 页码范围: 11-15
• 页数: 5页
• 分类号: TN206
• 字数: 3868字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-637X.2018.12.003

摘要

针对高灵敏度光电探测靶在强辐射背景下探测目标的可靠性问题,研究了强辐射背景下光电成像探测性能的计算方法;基于目标的光学辐射特性,建立了光电探测的灵敏度与信噪比模型,给出了电荷串扰阈值计算函数,并由此导出了光电探测与成像串扰概率模型;进行计算验证分析,结果表明,合理的信号处理和光谱滤波方式能够增强系统的探测性能,设置合理的光学系统参数可以使系统对目标的探测概率从0.3提升到0.95,串扰概率降低到0.05以下.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李翰山	西安工业大学电子信息工程学院	50	451	13.0	18.0
2	苗旺	西安工业大学电子信息工程学院	1	0	0.0	0.0