高能射线在产品结构分析中的应用

• 作者: 刘仕远 圣兆兴 王飞 陆春宇
• 来源期刊: 轨道交通装备与技术
• 学科: 工学
• 关键词: 高能射线 数字成像检测 结构分析
• 年，卷（期）: 2018,（5）
• 所属期刊栏目: 技术讲座
• 页码范围: 50-52
• 页数: 3页
• 分类号: TG115
• 字数: 1731字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13711/j.cnki.cn32-1836/u.2018.05.020

摘要

通过对电子差速锁结构特点进行分析,结合高能射线数字成像检测原理,对电子差速锁进行高能射线数字成像检测试验及批量检验,结果表明,该方法满足电子差速锁结构分析检测需求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘仕远		7	0	0.0	0.0
2	圣兆兴		5	0	0.0	0.0
3	王飞		4	1	1.0	1.0
4	陆春宇		2	0	0.0	0.0