高温超导储能磁体导冷片涡流损耗分析

• 作者: 张宏杰 方进 杨艳芳 耿国丽 赵鑫 陈铮
• 来源期刊: 低温与超导
• 关键词: 高温超导储能磁体 涡流损耗 导冷片 有限元
• 年，卷（期）: 2018,（2）
• 所属期刊栏目: 超导技术
• 页码范围: 34-38
• 页数: 5页
• 语种: 中文
• DOI: 10.16711/j.1001-7100.2018.02.008

摘要

高温超导储能(High Temperature Superconducting Magnetic Energy Storage,HTS-SMES)磁体装置可有效提高电力系统的稳定性、改善电能质量.储能磁体是储能装置的关键部分,为提高超导储能磁体的热稳定性,通常在超导磁体中增设铜导冷片.磁体充放电时在导冷片上会产生涡流损耗,损耗的大小严重影响磁体的超导特性,因此降低导冷结构的涡流损耗是提高磁体热稳定性的关键因素.运用有限元法(FEM)分析导冷片上的涡流损耗,在Ansoft仿真软件三维瞬态场中模拟磁体充电过程中导冷片的涡流损耗,结果表明:充电模式下,完整导冷片涡流损耗为1.45W;沿径向开缺口处理后涡流损耗为0.107W;导冷片内环、中部、外环开齿槽后涡流损耗分别为0.49、0.41、0.1242W.由此可得,对于导冷片的开齿槽处理可显著降低涡流损耗,且内部开齿槽的效果最佳.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	方进		72	202	7.0	11.0
2	杨艳芳		8	32	3.0	5.0
3	耿国丽		5	2	1.0	1.0
4	陈铮		5	2	1.0	1.0
5	张宏杰		6	11	2.0	3.0
6	赵鑫		6	39	1.0	6.0