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摘要:
采用热丝化学气相沉积(HFCVD)法,通过改变衬底温度制备硼掺杂金刚石薄膜.利用场发射扫描电子显微镜(FESEM)和X射线衍射仪(XRD)表征薄膜的表面形貌、结晶质量和晶粒大小.结果表明:衬底温度从700℃升高到760℃,薄膜质量提高,晶粒尺寸增大且缺陷减少,四探针测试显示薄膜电阻率逐渐降低,这是由于衬底表面的氢原子和含碳基团的迁移率增大,促进了粒子的反应和沉积,伴随着更多的硼原子替代碳原子形成B-C键,提高了硼掺杂效率;当衬底温度升高到790℃时,薄膜表面变得不平整,粒径减小且趋于非晶化,高温导致衬底和薄膜间的应力增大,表面堆积的含碳基团增多,抑制了硼原子的掺杂,薄膜电阻率增大.在丙酮流量60 cm3/min、氢气流量200 cm3/min、气压4 kPa、掺氧化硼的质量浓度为2 g/L的条件下,衬底温度为760℃时可制得高质量和低电阻率的金刚石薄膜.
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文献信息
篇名 衬底温度对HFCVD制备金刚石薄膜的影响
来源期刊 微纳电子技术 学科 工学
关键词 衬底温度 热丝化学气相沉积(HFCVD) 掺硼金刚石 电阻率 表面形貌
年,卷(期) 2018,(2) 所属期刊栏目 加工、测量与设备
研究方向 页码范围 130-134
页数 5页 分类号 TN304.18|TN304.055
字数 语种 中文
DOI 10.13250/j.cnki.wndz.2018.02.009
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 檀柏梅 河北工业大学电子信息工程学院 85 534 13.0 18.0
3 高宝红 河北工业大学电子信息工程学院 29 61 4.0 5.0
9 刘宜霖 河北工业大学电子信息工程学院 5 10 2.0 2.0
11 路一泽 河北工业大学电子信息工程学院 3 4 2.0 2.0
17 胡新星 河北工业大学电子信息工程学院 3 4 2.0 2.0
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