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衬底温度对HFCVD制备金刚石薄膜的影响
衬底温度对HFCVD制备金刚石薄膜的影响
作者:
刘宜霖
檀柏梅
胡新星
路一泽
高宝红
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
衬底温度
热丝化学气相沉积(HFCVD)
掺硼金刚石
电阻率
表面形貌
摘要:
采用热丝化学气相沉积(HFCVD)法,通过改变衬底温度制备硼掺杂金刚石薄膜.利用场发射扫描电子显微镜(FESEM)和X射线衍射仪(XRD)表征薄膜的表面形貌、结晶质量和晶粒大小.结果表明:衬底温度从700℃升高到760℃,薄膜质量提高,晶粒尺寸增大且缺陷减少,四探针测试显示薄膜电阻率逐渐降低,这是由于衬底表面的氢原子和含碳基团的迁移率增大,促进了粒子的反应和沉积,伴随着更多的硼原子替代碳原子形成B-C键,提高了硼掺杂效率;当衬底温度升高到790℃时,薄膜表面变得不平整,粒径减小且趋于非晶化,高温导致衬底和薄膜间的应力增大,表面堆积的含碳基团增多,抑制了硼原子的掺杂,薄膜电阻率增大.在丙酮流量60 cm3/min、氢气流量200 cm3/min、气压4 kPa、掺氧化硼的质量浓度为2 g/L的条件下,衬底温度为760℃时可制得高质量和低电阻率的金刚石薄膜.
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关键词热度
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篇名
衬底温度对HFCVD制备金刚石薄膜的影响
来源期刊
微纳电子技术
学科
工学
关键词
衬底温度
热丝化学气相沉积(HFCVD)
掺硼金刚石
电阻率
表面形貌
年,卷(期)
2018,(2)
所属期刊栏目
加工、测量与设备
研究方向
页码范围
130-134
页数
5页
分类号
TN304.18|TN304.055
字数
语种
中文
DOI
10.13250/j.cnki.wndz.2018.02.009
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
檀柏梅
河北工业大学电子信息工程学院
85
534
13.0
18.0
3
高宝红
河北工业大学电子信息工程学院
29
61
4.0
5.0
9
刘宜霖
河北工业大学电子信息工程学院
5
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2.0
2.0
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路一泽
河北工业大学电子信息工程学院
3
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胡新星
河北工业大学电子信息工程学院
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微纳电子技术
主办单位:
中国电子科技集团公司第十三研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1671-4776
CN:
13-1314/TN
开本:
大16开
出版地:
石家庄市179信箱46分箱
邮发代号:
18-60
创刊时间:
1964
语种:
chi
出版文献量(篇)
3266
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22
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