一种测量微波介质基板复介电常数的方法

• 作者: 刘长军 吴秉琪
• 来源期刊: 应用科技
• 学科: 工学
• 关键词: 微带线 印刷电路板 微波测量 介电常数测量 损耗角正切 辐射损耗 有效介电常数 宽频带测量
• 年，卷（期）: 2018,（4）
• 所属期刊栏目: 现代电子技术
• 页码范围: 100-103
• 页数: 4页
• 分类号: TN972
• 字数: 2841字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11991/yykj.201712001

摘要

为了测量微波介质基板的复介电常数,提出了一种基于微带线测量的方法.通过使用微带线相关理论模型和电磁场仿真软件计算微带线辐射损耗,编写相应的计算机程序可以测得微波介质基板的复介电常数.在测量中,通过使用除长度外其他参数均相同的2条微带线的测量数据进行计算,减弱了由于实际测量中引入同轴接头而产生的测量误差.对多种常见的微波介质基板进行了测量,结果表明:与标称值相比,介电常数实部误差为1％左右,损耗角正切误差为10％左右,该测量方法切实可行和精确性高.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘长军	四川大学电子信息学院	108	700	15.0	23.0
2	吴秉琪	四川大学电子信息学院	2	2	1.0	1.0