混合电路失效原因与机理分析

• 作者: 范士海
• 来源期刊: 环境技术
• 学科: 工学
• 关键词: 混合集成电路 设计缺陷 工艺缺陷 失效分析
• 年，卷（期）: 2018,（4）
• 所属期刊栏目: 环境试验
• 页码范围: 24-31
• 页数: 8页
• 分类号: TN45
• 字数: 2823字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-7204.2018.04.006

摘要

本文通过对典型案例的介绍,分析了混合电路自身缺陷以及内部所用的元器件质量问题,导致混合电路失效的原因与机理.通过分析可以看出,混合集成电路的内部结构设计缺陷与工艺缺陷,以及内部所用元器件的自身缺陷,都有可能造成混合电路失效.另外,本文在分析混合电路失效原因与机理基础上,提出了改进设计与工艺,以及加强来料控制措施.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	范士海		9	11	2.0	3.0