基于Gage R&R技术的少子寿命测试系统分析

• 作者: 于丽君 李亚明 王峰
• 来源期刊: 计量技术
• 关键词: 少子寿命 GageR&R 方差 测量系统
• 年，卷（期）: 2018,（1）
• 所属期刊栏目: 测量与设备
• 页码范围: 23-26
• 页数: 4页
• 字数: 2270字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0771.2018.01.07

摘要

以多晶硅锭少子寿命测量系统的稳定性和可靠性为研究对象,通过Gage R&R技术和单因子方差分析方法,对太阳能多晶硅锭的少子寿命测量系统进行分析.研究结果表明,以GR&R和单因子方差分析为手段,可以准确有效的对多晶硅锭测量系统的稳定性和可靠性进行监测,从而确保测量系统准确有效.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王峰	中国电子科技集团公司第二研究所	15	36	3.0	6.0
2	李亚明	中国电子科技集团公司第二研究所	13	23	3.0	4.0
3	于丽君	中国电子科技集团公司第二研究所	5	1	1.0	1.0