开关电源SiP技术应用研究

• 作者: 刘云鹏 张崎 曲明山 王宁 袁宝山 袁柱六
• 来源期刊: 电子元件与材料
• 学科: 工学
• 关键词: SiP LTCC HTCC 标准单元电路 可靠性 开关电源
• 年，卷（期）: 2018,（1）
• 所属期刊栏目: 研究与试制
• 页码范围: 66-70
• 页数: 5页
• 分类号: TN405
• 字数: 3734字
• 语种: 中文
• DOI: 10.14106/j.cnki.1001-2028.2018.01.013

摘要

通过对开关电源内部标准单元电路构成和内部元器件的特性分析研究,结合SiP技术,采用LTCC/HTCC工艺技术制作多层3D结构,实现开关电源电路中标准单元电路3D结构设计,有效提高了空间利用率,减小了体积.同时对该结构的热力载荷进行了可靠性分析,最后通过实际产品设计验证,证明SiP技术在开关电源中应用的可行性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王宁	中国电子科技集团公司第四十三研究所	40	51	4.0	6.0
2	袁柱六	中国电子科技集团公司第四十三研究所	9	1	1.0	1.0
3	袁宝山	中国电子科技集团公司第四十三研究所	4	1	1.0	1.0
4	张崎	中国电子科技集团公司第四十三研究所	5	8	1.0	2.0
5	刘云鹏	中国电子科技集团公司第四十三研究所	4	1	1.0	1.0
6	曲明山		2	1	1.0	1.0