双狭缝高分辨率紫外成像光谱仪光学系统设计

• 作者: 尹达一 朱雨霁 陈永和 魏传新
• 来源期刊: 半导体光电
• 学科: 工学
• 关键词: 紫外 双入射狭缝 成像光谱仪 Offner光谱成像系统 高分辨率
• 年，卷（期）: 2018,（4）
• 所属期刊栏目: 光电系统
• 页码范围: 549-553
• 页数: 5页
• 分类号: TN23
• 语种: 中文
• DOI: 10.16818/j.issn1001-5868.2018.04.020

摘要

在机载和星载领域,尤其是用于观测科学目标短期变化的应用领域,遥感平台逐步要求光谱仪在实现高分辨率的同时缩短重访时间.研究了基于Offner结构的紫外成像光谱系统,设计了一种工作波段为250～500 nm、双狭缝均长50 mm、双入射狭缝间隔为37 mm、光谱分辨率为0.3 nm的双缝高分辨率紫外成像光谱仪,并对设计结果进行了分析与评价.结果表明,这种紫外双缝成像光谱仪在41.67 lp·mm-1处的传递函数达到0.76以上,实现接近衍射极限的优良成像质量,同时大大缩短了系统重访时间,提高了系统的信噪比,在保证高分辨率的同时缩小了系统体积和扫描镜口径,适合机载和星载遥感应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	尹达一	中国科学院上海技术物理研究所	50	240	9.0	13.0
10	朱雨霁	中国科学院上海技术物理研究所	2	1	1.0	1.0
19	魏传新	中国科学院上海技术物理研究所	7	15	2.0	3.0