强电磁辐射下X射线条纹相机可靠性分析

• 作者: 于瑞珍 刘慎业 易涛 李廷帅 杨鸣 江少恩 王峰 胡昕 陈铭
• 来源期刊: 太赫兹科学与电子信息学报
• 学科: 工学
• 关键词: X射线条纹相机 可靠性 强电磁辐射
• 年，卷（期）: 2018,（5）
• 所属期刊栏目: 电磁场与微波
• 页码范围: 845-849
• 页数: 5页
• 分类号: TN306|O532
• 字数: 2499字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11805/TKYDA201805.0845

摘要

X射线条纹相机是激光惯性约束聚变研究中的核心测量设备,用于捕获聚变反应中瞬态X射线发射.对X射线条纹相机在聚变反应中强电磁辐射下的可靠性进行研究,给出了X射线条纹相机的可靠性框图及结构,并对X射线条纹相机各功能单元进行可靠性分配,针对其故障进行了故障模式和影响分析(FMEA).可靠性分析和FMEA显示,X射线条纹相机中变像管单元其可靠性分配值在各个分系统单元中最高,其故障能够引起严重故障和试验损失,是制约X射线条纹相机可靠性和稳定性的重要部件.通过对X射线条纹相机内各单元的可靠性以及故障模式分析,有助于研究人员开展有针对性的电磁辐射加固,提升相机在强电磁脉冲辐射环境中运行的可靠性.