一种MCU可测性优化设计

• 作者: 刘云晶 范学仕
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: MCU 可测性设计 资源划分技术 MBIST
• 年，卷（期）: 2018,（8）
• 所属期刊栏目: 电路设计
• 页码范围: 28-32
• 页数: 5页
• 分类号: TN402
• 字数: 3172字
• 语种: 中文

摘要

为了降低测试成本,提高测试效率,将测试资源划分技术和测试端口复用技术相结合,基于ATE外部测试和BIST内部测试的优点,进行可测性设计.基于ATE的外部测试方法,设计了数字逻辑SCAN链和模拟IP测试模式.基于BIST内部测试方法,设计了MBIST电路,对Memory进行测试.为更高效地下载程序和功能验证,设计了支持标准SPI协议的通用测试接口;同时设计了测试模式管理模块,对整个可测性设计进行优化,可实现多个IP同时测试,并在实际芯片中得到验证.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘云晶		3	2	1.0	1.0
2	范学仕		4	10	1.0	3.0