超高技术指标超声波双晶分隔探头的研制

• 作者: 万升云 吴来政 邬结文
• 来源期刊: 无损探伤
• 学科: 工学
• 关键词: 双晶片分隔 超高技术指标 距离-波幅曲线 抗扰始波高度
• 年，卷（期）: 2018,（4）
• 所属期刊栏目: 仪器方法
• 页码范围: 33-35
• 页数: 3页
• 分类号: TG115.28
• 语种: 中文

摘要

介绍了新近研发的双晶分隔式超声波探头,改变了传统技术制造的思路,突破了技术指标的瓶颈.该探头在2mm～3mm薄板和50mm～60mm的中厚板需要在同一工况下检测,以及厚板从上表面到下表面在同一工况下检测中,其灵敏度波动不超过6dB且抗扰始波高度大于40dB,其指标领先国内外技术水平.