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摘要:
可控硅(SCR)作为静电放电(ESD)保护器件,因具有高的鲁棒性而被广泛应用,但其维持电压很低,容易导致闩锁问题.针对高压集成电路的ESD保护,提出了一种新颖的具有高维持电压的SCR结构(H HVSCR).通过添加一个重掺杂的N型掺杂层(NIL),减小了SCR器件自身固有的正反馈效应,从而提高了SCR的维持电压.Sentaurus TCAD仿真结果表明,与传统的SCR相比,改进的HHVSCR无需增加额外的面积就可将维持电压从1.88V提高到11.9V,可应用于高压集成电路的ESD防护.
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内容分析
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文献信息
篇名 一种新型的高维持电压可控硅
来源期刊 微电子学 学科 工学
关键词 静电放电 可控硅 高维持电压 N型掺杂层
年,卷(期) 2018,(6) 所属期刊栏目 半导体器件与工艺
研究方向 页码范围 811-814
页数 4页 分类号 TN342
字数 语种 中文
DOI 10.13911/j.cnki.1004-3365.170584
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李浩亮 郑州大学信息工程学院 31 33 3.0 4.0
2 刘志伟 电子科技大学微电子与固体电子学院 14 29 3.0 5.0
3 刘俊杰 郑州大学信息工程学院 6 2 1.0 1.0
4 尹沙楠 郑州大学信息工程学院 2 0 0.0 0.0
5 仝壮 郑州大学信息工程学院 2 0 0.0 0.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
静电放电
可控硅
高维持电压
N型掺杂层
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
微电子学
双月刊
1004-3365
50-1090/TN
大16开
重庆市南坪花园路14号24所
1971
chi
出版文献量(篇)
3955
总下载数(次)
20
总被引数(次)
21140
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