一种基于CS32FOXX芯片的ADC测试结构的优化方法及其FPGA实现

• 作者: 杨晓刚 王月玲 鲍宜鹏
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: ADC测试 FPGA 数模混合仿真 测试资源优化 测试方法
• 年，卷（期）: 2018,（8）
• 所属期刊栏目: 封装、组装与测试
• 页码范围: 9-12
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 2117字
• 语种: 中文

摘要

随着超深亚微米工艺的发展和SoC基于IP核的设计,使芯片逻辑功能越来越复杂,需要更多的引脚和测试资源.为了满足不同客户的需求,要求芯片的引脚数有灵活性,这直接导致了对芯片测试资源使用有所限制.使用较少的硬件资源,完成复杂的逻辑功能测试,是芯片测试逻辑设计的核心技术之一.主要介绍对ADC所需的测试资源的优化,首先介绍了传统ADC测试结构及其局限性,然后介绍了ADC优化后的测试结构,使之能够在较少芯片引脚资源的条件下保证测试灵活性.在此基础之上,搭建了ADC数模仿真环境,并使用NC-SIM软件对ADC基本功能进行了仿真测试.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王月玲	中国电子科技集团公司第五十八研究所	8	28	4.0	5.0
2	杨晓刚	中国电子科技集团公司第五十八研究所	3	2	1.0	1.0
3	鲍宜鹏	中国电子科技集团公司第五十八研究所	4	9	1.0	3.0