FRD局域寿命控制技术的仿真研究

• 作者: 关艳霞 宫兴 闫娜
• 来源期刊: 集成电路应用
• 学科: 工学
• 关键词: 快恢复二极管 双质子辐照 反向恢复软度因子 反向恢复时间
• 年，卷（期）: 2018,（2）
• 所属期刊栏目: 研究与设计
• 页码范围: 29-32
• 页数: 4页
• 分类号: TN402
• 字数: 2783字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19339/j.issn.1674-2583.2018.02.007

摘要

传统的快恢复二极管,为了缩短反向恢复时间,通常采用电子辐照来减小基区的少子寿命,但电子辐照在降低器件的反向恢复时间的同时,也使得其通态压降增大.本文采用双质子辐照的局域寿命控制的方法,利用SILVACO软件对二极管特性进行仿真研究,讨论局域低寿命区在二极管中的不同位置,对快恢复二极管的反向恢复电流,反向恢复软度因子,以及通态压降的影响,为快恢复二极管的实际生产提供理论依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	关艳霞	沈阳工业大学信息科学与工程学院	35	79	5.0	7.0
2	闫娜	沈阳工业大学信息科学与工程学院	2	1	1.0	1.0
3	宫兴	沈阳工业大学信息科学与工程学院	3	2	1.0	1.0