采用超高压液相色谱-质谱(UPLC-MS)以及高能诱导裂解(HCD)技术分析吡唑醚菌酯原药中的杂质,以C18反相色谱柱梯度洗脱,ESI 正离子模式测定.通过解析原药主成分与杂质的裂解规律发现,在二级质谱图中,同时存在偶电子离子和奇电子离子的碎片.结合原药的合成路线,推测3种杂质可能的结构及来源:杂质 A产生于硝基羟胺化还原步骤中;杂质 B 由羟胺中间体与二氯乙烷溶剂反应产生;杂质C是苄溴化反应步骤中过量的溴导致的.经过比对杂质对照品的色谱、质谱数据,进一步确证了杂质的定性分析结果.该方法对吡唑醚菌酯原药的纯化、生产工艺改进、质量监控具有指导意义.