集成电路真伪辨识方法

• 作者: 吕栋 虞勇坚 邹巧云
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 集成电路 真伪辨识 外观 打磨
• 年，卷（期）: 2018,（8）
• 所属期刊栏目: 封装、组装与测试
• 页码范围: 5-8
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 2892字
• 语种: 中文

摘要

随着电子产品的高度集成化,电子元器件不断更新换代,旧版本的集成电路逐步停产,加上国外公司的禁运等多种因素的影响,翻新、假冒和伪劣的集成电路越来越多,给电子产品和军用装备的可靠性带来很大的风险.按照从简单到复杂、从外部到内部、从非破坏性到破坏性的顺序介绍了几种辨识假冒伪劣集成电路的方法,通过检查集成电路的外部标识、引线、表面状况以及内部工艺,配合二筛的环境适应性试验及电性能测试,可以有效判断是否为假冒伪劣集成电路.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吕栋	中国电子科技集团公司第五十八研究所	8	37	3.0	6.0
2	虞勇坚	中国电子科技集团公司第五十八研究所	7	8	2.0	2.0
3	邹巧云	中国电子科技集团公司第五十八研究所	8	9	2.0	2.0