电环形谐振腔表面几何参数对太赫兹超材料吸收体性能的影响

• 作者: GOMON Daniel IDELFONSO Tafur Monroy KHODZITSKY Mikhail RODRíGUEZ Sebastián SEDYKH Egor VOZIANOVA Anna ZAITSEV Kirill
• 来源期刊: 中国光学
• 关键词: 超材料 光谱 太赫兹 吸收器
• 年，卷（期）: 2018,（1）
• 所属期刊栏目: 微内光学
• 页码范围: 47-59
• 页数: 13页
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/CO.20181101.0047

摘要

本文分析了电环形谐振腔的几何参数对超材料吸收体吸收率的影响.文中详细分析了电环形谐振腔参数、介电层(间隔物)厚度和电环形谐振腔厚度对超材料吸收体的影响,在此基础上,设置正交实验分析了几种参数的综合影响,最终获得超材料的理论吸收率.根据上述结果,制备了2个超材料吸收体的原理样机,经实验测得,原理样机的窄带吸收率高于98%.本文的研究成果为高性能吸收器的设计提供了指导.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	RODRíGUEZ Sebastián		1	1	1.0	1.0
2	IDELFONSO Tafur Monroy		1	1	1.0	1.0
3	ZAITSEV Kirill	鲍曼莫斯科国立技术大学莫斯科	1	1	1.0	1.0