一种步进的单元散布拥塞消除算法

• 作者: 冯全源 周庭旭 邸志雄
• 来源期刊: 微电子学
• 学科: 工学
• 关键词: 数字集成电路物理设计 布局布线 拥塞 单元散布
• 年，卷（期）: 2018,（6）
• 所属期刊栏目: 模型与算法
• 页码范围: 798-801
• 页数: 4页
• 分类号: TN402|TN47
• 语种: 中文
• DOI: 10.13911/j.cnki.1004-3365.180036

摘要

提出一种用于布局阶段的拥塞消除算法.首先,筛选出拥塞严重区域的高引脚数标准单元.然后,以步进的方式为这些标准单元设置隔离区域,使其散布,以消除该区域的拥塞.该方法能有效降低设计的短路违例,并减小总线长优化时序.采用提出的算法和SYNOPSYS公司的软件ICC,对一种采用SMIC 65 nm标准单元工艺库的两百万门设计进行优化.与ICC的优化结果相比,采用该算法后,短路违例降低了12％,总线长缩短了7％,总违例时间减少了14％,但运行时间有所增加.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	冯全源	西南交通大学微电子研究所	261	1853	19.0	26.0
2	邸志雄	西南交通大学微电子研究所	6	10	2.0	3.0
3	周庭旭	西南交通大学微电子研究所	1	0	0.0	0.0