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摘要:
利用磁控溅射的方法制备了Ag和Ag/Co双层薄膜样品.通过椭偏测量和磁光克尔测量,得到薄膜样品的有效光学常量和有效磁光参量,并通过数值分析得到介电张量的非对角元.实验结果表明:用通常公式计算和磁光测量与椭偏测量结合计算非磁样品Ag薄膜的光学常量的结果一致,验证了基于磁光测量方法计算介电张量非对角元的正确性.
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文献信息
篇名 利用磁光克尔效应计算材料的介电张量非对角元
来源期刊 物理实验 学科 物理学
关键词 磁光克尔效应 光学常量 介电张量非对角元
年,卷(期) 2018,(9) 所属期刊栏目 近代与综合实验
研究方向 页码范围 12-16,20
页数 6页 分类号 O441.6|O484.5
字数 3217字 语种 中文
DOI 10.19655/j.cnki.1005-4642.2018.09.002
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 孔祥和 曲阜师范大学物理工程学院 60 174 7.0 9.0
2 张霞 曲阜师范大学物理工程学院 16 36 2.0 5.0
3 曹克 曲阜师范大学物理工程学院 1 0 0.0 0.0
4 王玉颖 曲阜师范大学物理工程学院 1 0 0.0 0.0
5 孙学博 曲阜师范大学物理工程学院 1 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
节点文献
磁光克尔效应
光学常量
介电张量非对角元
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
物理实验
月刊
1005-4642
22-1144/O4
大16开
长春市人民大街5268号东北师范大学内
12-44
1980
chi
出版文献量(篇)
3869
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22
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