基于压电阻抗法的固体推进剂老化损伤检测

• 作者: 张守诚 强洪夫 段磊光 王学仁 王广 肖黎
• 来源期刊: 固体火箭技术
• 学科: 航空航天
• 关键词: HTPB固体推进剂 老化损伤 压电阻抗方法 均方根偏差
• 年，卷（期）: 2018,（5）
• 所属期刊栏目: 含能材料
• 页码范围: 608-613
• 页数: 6页
• 分类号: V512
• 字数: 4616字
• 语种: 中文
• DOI: 10.7673/j.issn.1006-2793.2018.05.013

摘要

基于高频压电阻抗方法,利用粘贴于HTPB固体推进剂的压电主动激励传感器对HTPB固体推进剂老化损伤进行实验研究.介绍了EMI检测HTPB推进剂老化的意义,进一步阐述了压电阻抗方法表征老化损伤的原理,制备了热老化推进剂试件,搭建EMI试验平台,得出了不同热老化时间的导纳频谱曲线及变化规律,计算了能表征老化损伤程度的均方根偏差损伤指标.结果表明,高频压电阻抗方法可通过识别热老化HTPB推进剂试件上的压电片的导纳变化而检测其老化损伤;一定频率范围内导纳的实部比虚部能够更好地反映出老化特性,并且随着推进剂热老化时间的增长,导纳实部的共振峰值下降,共振频率向更低频偏移.通过RMSD定义的老化损伤指标能够更好地衡量推进剂的老化程度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	肖黎	武汉大学工程力学系	51	130	7.0	8.0
2	强洪夫	火箭军工程大学导弹工程学院	32	37	4.0	5.0
3	王学仁	火箭军工程大学导弹工程学院	8	9	2.0	3.0
4	张守诚	武汉大学工程力学系	3	5	1.0	2.0
5	王广	火箭军工程大学导弹工程学院	11	2	1.0	1.0
6	段磊光	火箭军工程大学导弹工程学院	5	0	0.0	0.0