半导体γ谱仪的期间核查和质量控制方法探讨

• 作者: 庞荣华
• 来源期刊: 四川环境
• 学科: 医学
• 关键词: 半导体γ 谱仪 期间核查 质量控制措施
• 年，卷（期）: 2018,（3）
• 所属期刊栏目: 环境辐射
• 页码范围: 125-130
• 页数: 6页
• 分类号: R144
• 字数: 4685字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-3644.2018.03.021

摘要

采用期间核查和质量控制的方法,是为了验证和确保低本底半导体γ 谱仪工作性能的稳定和可靠,保证检测数据的质量和准确.使用低本底高纯锗γ 谱仪GR8023,用不同的标准源测试其分辨力、短期稳定性、效率和活度,与 JJG417-2006 中对半导体γ 谱仪的计量性能指标进行对比;测量10 ～ 20 次相同时间间隔的本底计数,进行泊松分布检验,对一年内该仪器的本底计数和对同一标准源的探测效率进行统计,分别绘制本底和探测效率长期稳定性质量控制图.低本底高纯锗γ 谱仪GR8023 的主要计量指标满足要求,短期稳定性满足泊松分布,本底计数率和探测效率测量值均落在质量控制图的警戒线内.在一个检定周期内,低本底高纯锗γ 谱仪GR8023 的期间核查结果合格,短期稳定性和长期稳定性满足要求,仪器工作稳定,满足检测工作需要.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	庞荣华		9	39	4.0	6.0