CCD摄像法测量激光近场光斑能量的研究

• 作者: 易瑔 李晨 李鉴 杨建昌
• 来源期刊: 光电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 电荷耦合器件摄像法 伪彩色技术 灰度值
• 年，卷（期）: 2018,（4）
• 所属期刊栏目: 研究与试制
• 页码范围: 282-285
• 页数: 4页
• 分类号: TP317.4
• 语种: 中文
• DOI: 10.19453/j.cnki.1005-488x.2018.04.014

摘要

CCD摄像法测量激光进场光斑能量分布和能量值,伪彩色技术处理获取的光斑图像,使其能量分布可视化,便于观察和评价光斑质量;测量漫反射板开孔位置处的能量值并结合光斑图像的灰度值分布规律,计算得到光斑的总能量.实验和计算结果表明:CCD摄像法具有较好的准确性和实用性,在激光光斑测量方面具有重要的应用价值.