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某型号点火电路测试系统的设计与改进
某型号点火电路测试系统的设计与改进
作者:
孙骜
尹冀波
张雷
杨振宇
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
点火电路
测试系统
IAP15W1K29S单片机
可编程测量设备
全覆盖测试
摘要:
针对某型号点火电路的测试项多、测试复杂、原有测试系统测试效率低、测试项不全的问题,介绍了一种测试系统设计方案,能够实现电路的自动测试.该系统包含某型号点火电路的全部电特性参数及部分附加测试项,并根据不同测试项的测试条件与特性,将测试系统分为在线与离线两部分.完成设计并投入使用后,发现其测试效率与测试一致性仍可提高,故对此测试系统进行改进,并完成实物搭建,进一步提高了测试效率,实现了系统固化.某型号点火电路测试系统的设计与改进,为该型号产品的质量提供了保证,并节约了大量的人力物力.
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文献信息
篇名
某型号点火电路测试系统的设计与改进
来源期刊
微处理机
学科
工学
关键词
点火电路
测试系统
IAP15W1K29S单片机
可编程测量设备
全覆盖测试
年,卷(期)
2018,(6)
所属期刊栏目
大规模集成电路设计、制造与应用
研究方向
页码范围
6-10
页数
5页
分类号
TN407
字数
1975字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1002-2279.2018.06.002
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
尹冀波
中国电子科技集团公司第四十七研究所
9
12
2.0
2.0
2
张雷
中国电子科技集团公司第四十七研究所
15
35
2.0
5.0
3
孙骜
中国电子科技集团公司第四十七研究所
2
1
1.0
1.0
4
杨振宇
中国电子科技集团公司第四十七研究所
1
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二级引证文献(0)
2020(1)
引证文献(1)
二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
点火电路
测试系统
IAP15W1K29S单片机
可编程测量设备
全覆盖测试
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
微处理机
主办单位:
中国电子科技集团公司第四十七研究所
出版周期:
双月刊
ISSN:
1002-2279
CN:
21-1216/TP
开本:
大16开
出版地:
沈阳市皇姑区陵园街20号
邮发代号:
创刊时间:
1979
语种:
chi
出版文献量(篇)
3415
总下载数(次)
7
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