运用可靠性强化试验技术提高设计健壮性和成熟度

• 作者: 郝英稳 闫亚力
• 来源期刊: 电子质量
• 学科: 工学
• 关键词: 设计验证 HALT 根因分析
• 年，卷（期）: 2018,（6）
• 所属期刊栏目: 可靠性分析
• 页码范围: 33-35
• 页数: 3页
• 分类号: TB114.3
• 字数: 2605字
• 语种: 中文

摘要

高加速寿命试验能够有效提高电子产品可靠性,在航天、汽车电子、通讯、家电等领域得到了广泛应用.该文着重介绍了在电子测量仪器领域,高加速寿命试验的过程及参数设置,最后以实例说明其在消除设计缺陷方面发挥的作用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郝英稳	中国电子科技集团有限公司第四十一研究所	2	0	0.0	0.0
2	闫亚力	中国电子科技集团有限公司第四十一研究所	4	11	1.0	3.0