12 bit 30 MSPS逐次比较型ADC的测试

• 作者: 刘建峰 刘树彬 周圣智 安琪 杨云帆 赵雷
• 来源期刊: 原子核物理评论
• 学科: 工学
• 关键词: 模数转换器 逐次比较 动态性能测试 静态性能测试
• 年，卷（期）: 2018,（1）
• 所属期刊栏目: 核技术
• 页码范围: 46-52
• 页数: 7页
• 分类号: TL503.6
• 语种: 中文
• DOI: 10.11804/NuclPhysRev.35.01.046

摘要

针对物理实验读出的需求设计了一款低功耗12 bit 30 MSPS逐次比较型模数变换器(Analog-to-Digital Converter,ADC)芯片,为评估其性能指标参数,需进行系统的测试.在本研究工作中构建了测试系统,然后按照IEEE标准进行了系统的测试和分析.测试结果表明,输入信号在基带范围内ADC有效位(Effective Number Of Bit,ENOB)约为9 bit,达到了本版本芯片的设计指标.同时,综合分析静态性能与动态性能测试结果,可以通过优化逐次比较型ADC中电容阵列电容失配参数,进一步提升ADC的非线性指标,为下一版芯片的改进设计提供了参考依据.