基于SuperMC对结构缝隙影响中子屏蔽的研究

• 作者: 孙超 孟宪芳 张龙 曹可 王士军 秦培中 马慧玲
• 来源期刊: 辐射防护
• 关键词: 结构缝隙 中子能谱 衰减倍数 SuperMC程序
• 年，卷（期）: 2018,（4）
• 所属期刊栏目: 剂量学基础
• 页码范围: 265-269
• 页数: 5页
• 分类号: TL72
• 语种: 中文

摘要

本文基于Monte Carlo粒子输运计算程序SuperMC,计算了四种含硼聚乙烯(B-PE)结构缝隙对两种谱中子的衰减倍数.为了便于比较不同结构缝隙对中子屏蔽性能的影响,统一与相同厚度无缝隙材料相比得到中子衰减倍数相对减小量,并在相同条件下对计算结果进行了实验验证.结果表明:对于厚度6 cm的B-PE材料,斜缝结构的快中子衰减倍数相对减小量为直缝结构的1/8,斜缝结构的慢化中子衰减倍数相对减小量为直缝结构的1/3,斜缝结构对中子屏蔽产生的负面影响最小.