一种谱聚类灰度纹理图像分割方法及其 在近红外成像仿真中的应用

• 作者: 张宇 张硕 白廷柱 邱纯 邵龙
• 来源期刊: 红外技术
• 学科: 工学
• 关键词: 近红外仿真 图像分割 超像素 谱聚类 纹理特征 相似度矩阵
• 年，卷（期）: 2018,（4）
• 所属期刊栏目: 图像处理与仿真
• 页码范围: 369-376
• 页数: 8页
• 分类号: TP391
• 字数: 5989字
• 语种: 中文

摘要

针对近红外场景仿真中需要将不同材质分类的问题,提出一种谱聚类的灰度纹理图像分割方法.首先利用mean-shift算法,将原始图像预分割为多个具有准确边界的同质区域,并将这些区域描述为超像素;进而,将超像素构造的无向加权图作为谱聚类的输入,通过谱聚类的方法解决超像素的过分割问题.本文的方法在谱聚类过程中考虑了超像素的纹理特征,弥补了灰度图像在谱聚类过程中只顾及灰度和空间信息的不足.实验结果表明,利用本文分割方法不但减少了运算量,并且为精细的近红外场景仿真奠定了基础.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	白廷柱	北京理工大学光电学院光电成像技术与系统教育部重点实验室	94	750	13.0	23.0
2	张宇	北京理工大学光电学院光电成像技术与系统教育部重点实验室	37	152	7.0	11.0
3	张硕	北京理工大学光电学院光电成像技术与系统教育部重点实验室	18	43	3.0	6.0
4	邵龙	北京理工大学光电学院光电成像技术与系统教育部重点实验室	4	6	2.0	2.0
5	邱纯	北京理工大学光电学院光电成像技术与系统教育部重点实验室	3	12	2.0	3.0