单O型圈密封结构中双层密封泄漏机理研究

• 作者: 孙立志 孙立臣 李文斌 郭崇武 齐飞飞
• 来源期刊: 真空
• 学科: 工学
• 关键词: 检漏 真空 单O型圈密封结构 双层密封结构
• 年，卷（期）: 2018,（6）
• 页码范围: 19-23
• 页数: 5页
• 分类号: TB774
• 语种: 中文
• DOI: 10.13385/j.cnki.vacuum.2018.06.05

摘要

某航天单O型圈密封结构单机产品真空检漏试验中,漏率曲线持续缓慢上涨并出现"尖角"现象,类似典型双层弹性密封现象,此现象影响检漏结果的可靠性,因此弄清楚这一现象对后续的检漏试验是非常必要的.本文建立了双密封结构泄漏过程的数学模型,从而在理论上解释了此类现象发生的原因,并设计了实验工装,对实验结果进行了现象分析.这对后续的检漏试验具有一定的指导意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙立臣		68	159	6.0	9.0
2	孙立志		12	13	2.0	3.0
3	郭崇武		2	0	0.0	0.0
4	齐飞飞		2	0	0.0	0.0
5	李文斌		2	0	0.0	0.0