X射线荧光光谱法对带镍覆盖层银饰品中银含量的快速检测

• 作者: 吴奕阳 李晨光 黄国芳
• 来源期刊: 上海计量测试
• 关键词: X射线荧光光谱法 银饰品 银 镍覆盖层
• 年，卷（期）: 2018,（6）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 32-34
• 页数: 3页
• 字数: 2498字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-2235.2018.06.013

摘要

应用X射线荧光光谱法(XRF法)开展快速检测带镍覆盖层银饰品的银含量方法研究.使用X射线荧光显微仪和X射线荧光镀层测厚仪对样品进行测定,测得银饰品的基体银含量、镍覆盖层厚度和样品厚度,运用K值计算法,获得银饰品的银含量.银含量的检测结果与化学滴定法的测试结果吻合,证明XRF方法准确可行.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴奕阳		6	16	2.0	3.0
2	黄国芳		4	9	2.0	3.0
3	李晨光		2	7	2.0	2.0