FPGA测试压缩技术研究

• 作者: 肖艳梅 解维坤 陈龙 黄晋
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: FPGA 配置时间 压缩测试 ATE
• 年，卷（期）: 2018,（5）
• 所属期刊栏目: 封装、组装与测试
• 页码范围: 8-11
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 2012字
• 语种: 中文

摘要

随着FPGA规模不断增大,配置码越来越大,配置时间也越来越长,因此降低测试时间、提高测试效率具有十分重要的意义.主要从位流压缩和向量加载角度出发,研究了基于多帧写FPGA位流压缩、基于ATE的X模式和Multiport方式的测试压缩等多种测试压缩方法.以Xilinx公司Virtex-5系列FPGA-XC5VLX155T为例进行了测试验证.测试结果证明,采用测试压缩方法可使单颗FPGA的测试时间至少节省25.5 s,这些方法可大大降低对测试系统向量空间的需求,缩短FPGA的测试配置时间、提高测试效率,同时对其他类型数字电路的测试也有借鉴作用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈龙	中国电子科技集团公司第五十八研究所	11	10	2.0	3.0
2	肖艳梅	江南大学物联网工程学院	4	3	1.0	1.0
3	解维坤	中国电子科技集团公司第五十八研究所	10	22	2.0	4.0
4	黄晋	中国电子科技集团公司第五十八研究所	1	2	1.0	1.0