一种反熔丝FPGA可实现的闪存坏块管理算法

• 作者: 莫凡 陆一波 陈晓飞
• 来源期刊: 中国电子科学研究院学报
• 学科: 工学
• 关键词: 闪存 坏块管理 FPGA
• 年，卷（期）: 2018,（6）
• 所属期刊栏目: 工程与应用
• 页码范围: 708-712
• 页数: 5页
• 分类号: TN791|TP333.3
• 字数: 2608字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-5692.2018.06.015

摘要

该算法基于顺序循环存储的存储结构,闪存控制逻辑简单,可用常见的具有抗辐照指标的反熔丝FPGA可实现.本文简述了与算法相关的闪存功能,概述了顺序循环存储的存储结构,详述了该算法的原理,给出了实现元器件和仿真,最后将该算法与其他常见算法进行比较,给出了该算法的适用范围.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	莫凡		1	0	0.0	0.0
2	陈晓飞		1	0	0.0	0.0
3	陆一波		1	0	0.0	0.0