直流电缆主绝缘与屏蔽层界面形貌对电场畸变的仿真研究

• 作者: 吴建东 孙璐 尹毅 张磊 沈耀军 胡嘉磊
• 来源期刊: 电气工程学报
• 学科: 工学
• 关键词: 界面形貌 直流电缆 随机过程 有限元 仿真
• 年，卷（期）: 2018,（11）
• 所属期刊栏目: 高压直流绝缘专刊
• 页码范围: 30-36
• 页数: 7页
• 分类号: TM215
• 字数: 3052字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11985/2018.11.004

摘要

高压直流电缆中,主绝缘与屏蔽层的界面形貌,引起界面附近主绝缘内电场的畸变,是造成电缆绝缘故障的原因之一.这种界面形貌形成的机理与屏蔽层中掺杂的炭黑颗粒有关,在生产过程中,这些颗粒进入主绝缘内,形成局部凸起,引发电场集中.本文从该机理出发,基于随机过程建立界面形貌的几何模型,有限元仿真计算界面附近的电场分布,从统计的意义上,研究该界面形貌对电场畸变的影响.结果表明,为降低界面形貌引起的电场畸变,最有效的方法之一是增大屏蔽层中掺杂炭黑颗粒的粒径和减小这些颗粒进入主绝缘的深度.若屏蔽层中有不可去除的小粒径颗粒,则可以掺杂大颗粒炭黑从概率上减小电场畸变.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	尹毅	上海交通大学电子信息与电气工程学院电气工程系	87	1316	22.0	34.0
2	吴建东	上海交通大学电子信息与电气工程学院电气工程系	47	507	13.0	22.0
3	张磊		22	68	4.0	8.0
7	胡嘉磊	上海交通大学电子信息与电气工程学院电气工程系	7	17	2.0	3.0
8	孙璐		1	1	1.0	1.0