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摘要:
研究了HDP-CVD PSG薄膜在栅极周围类似“花朵”状的磷含量分布的机理.实验结果表明,“花朵”状的磷含量分布是HDP-CVD反应腔中Bias RF将栅极间隙顶部的氧化物轰击溅射到间隙底部,掉落在间隙底部拐角处的氧化物再淀积的PSG薄膜中磷含量比其他区域低而形成的.这种“花朵”状的磷含量分布沿着栅极两边间隙底部拐角往上生长,是HDP-CVD PSG薄膜所特有的,它的形成与底部材料以及图形疏密分布无关.
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文献信息
篇名 HDP-CVD磷硅玻璃特殊磷掺杂分布的机理研究
来源期刊 微电子学 学科 工学
关键词 高密度等离子化学气相淀积 磷硅玻璃 薄膜
年,卷(期) 2018,(3) 所属期刊栏目 半导体器件与工艺
研究方向 页码范围 411-415
页数 5页 分类号 TN405|TN305.3
字数 语种 中文
DOI 10.13911/j.cnki.1004-3365.170352
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1 吴建荣 1 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
节点文献
高密度等离子化学气相淀积
磷硅玻璃
薄膜
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
微电子学
双月刊
1004-3365
50-1090/TN
大16开
重庆市南坪花园路14号24所
1971
chi
出版文献量(篇)
3955
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