基于差错概率传播模型的门级电路可靠度计算

• 作者: 欧阳城添 陈莉莉
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 大规模集成电路 电路可靠度 概率转移矩阵 传播模型
• 年，卷（期）: 2018,（3）
• 页码范围: 88-92
• 页数: 5页
• 分类号: TP331
• 语种: 中文

摘要

提出了一种差错概率传播模型,该方法首先将逻辑门的差错概率加载到连接导线上进行计算,再逐个计算逻辑门的正确输出概率,最后计算得到整个电路的可靠度.与传统概率转移矩阵方法比较,所提出的改进方法有效地减小了时间和空间复杂度,能适用于大规模电路的可靠性评估.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	欧阳城添	江西理工大学信息工程学院	15	44	4.0	6.0
2	陈莉莉	江西理工大学信息工程学院	2	0	0.0	0.0